X射线荧光光谱测定石墨烯粉体中的杂质元素

编号：FTJS07277

篇名：X射线荧光光谱测定石墨烯粉体中的杂质元素

作者：田国兰 陈岚 刘忍肖 葛广路

关键词： 石墨烯粉体 杂质元素 快速无损

机构： 国家纳米科学中心中国科学院纳米标准与检测重点实验室

摘要： 石墨烯粉体是我国已具备规模化生产能力的主要石墨烯材料,针对其关键物理化学特性建立准确可靠的测量方法极为重要.开发了一种利用X射线荧光光谱(XRF)技术对石墨烯粉体中杂质进行快速、无损分析的检测方法,可实现对石墨烯粉体产品质量的便捷初判.研究了石墨烯粉体样品的不同测试形态,并通过将XRF测量结果与电感耦合等离子体-原子发射光谱(ICP-OES)、电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)和X射线能谱(EDX)等检测技术的测量结果进行对比,结果表明XRF可对石墨烯粉体样品中的非金属杂质S、Cl、Si、P及金属杂质Na、Mg、Ca、Fe、Cu、Ti、W、Cr等可靠检出,可实现对石墨烯粉体中杂质元素的快速、简便、无损低成本的定量测量.