中国粉体网讯  太赫兹光谱仪可以穿透石墨烯薄膜，使科学家能够在不破坏或污染材料的情况下，对其电气质量进行详细的描绘。石墨烯旗舰将学术界和工业界的研究人员聚集在一起，开发并成熟了这一分析技术，现在一种用于石墨烯表征的新型测量工具已经准备就绪。

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这一努力得益于石墨烯旗舰项目欧洲联盟营造的合作环境，来自石墨烯旗舰项目合作伙伴丹麦DTU、意大利IIT、芬兰阿尔托大学、英国AIXTRON、比利时imec、西班牙Graphenea、波兰华沙大学和法国Thales R&T的科学家，以及中国、韩国和美国的合作者都参与其中。

石墨烯经常被 "夹 "在许多不同的层和材料之间，以用于电子和光子器件。这使得质量评估的过程变得复杂。而太赫兹光谱学使事情变得简单。它可以对封装材料进行成像，并揭示下面石墨烯的质量，暴露制造过程中关键点的缺陷。这是一种快速、非破坏性的技术，可以探测石墨烯和层状材料的电特性，而无需直接接触。

像太赫兹光谱这样的表征技术的发展是加速大规模生产的基础，因为它们保证了石墨烯功能器件的制造是一致的、可预测的、没有缺陷的。质量控制先于信任。得益于Graphene Flagship开创的其它技术进展，如石墨烯和分层材料的卷对卷生产让制造技术已经准备好迈向下一步。太赫兹光谱技术使我们能够在不忽视质量的前提下加快石墨烯的生产速度。得益于太赫兹光谱技术，制造者可以在不接触石墨烯样品的情况下，轻松绘制出甚至是米级的石墨烯样品，这在其他一些最先进的技术中是不可能的。此外，石墨烯旗舰目前正在研究如何将太赫兹光谱直接应用到卷对卷石墨烯生产线中，并加快成像速度。

（中国粉体网编辑整理/青黎）

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