欢迎访问石墨行业门户!
免费注册 个人登录 企业登录
粉享通 | 粉享汇 | 粉享买卖 |

微信

关注微信公众号
| 广告服务 |

手机版

扫一扫在手机访问
石墨 > 技术中心 >
技术资料
含Stone-Wales缺陷zigzag型石墨烯纳米带的电学和光学性能研究
3713 2011-03-02
编号:NMJS00172
篇名: 含Stone-Wales缺陷zigzag型石墨烯纳米带的电学和光学性能研究
作者: 王志勇; 胡慧芳; 顾林; 王巍; 贾金凤;
关键词:石墨烯纳米带; Stone-Wales缺陷; 电子结构; 光学性能;
机构:湖南大学物理与微电子科学学院; 桂林理工大学理学院;
摘要: 本文采用基于密度泛函理论的第一性原理对zigzag型石墨烯纳米带中含有不同Stone-Wales缺陷的电子结构特性和光学性能进行研究.考虑了两种模型:不计电子自旋和考虑电子自旋的情况.研究发现:不计电子自旋情况下,含对称Stone-Wales缺陷的石墨烯纳米带在缺陷区域出现了凹凸不平的折皱构型,两种不同的Stone-Wales缺陷都引起了电荷的重新分布.考虑电子自旋时,Stone-Wales缺陷的引入对石墨烯纳米带自旋密度有显著影响,也引起了不同自旋的电子态密度的变化.进一步研究了纳米带的光学性能,发现引入不同的Stone-Wales缺陷使得吸收和反射谱发生了较大变化,其峰位发生了红移.